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【信息科学与工程学】计算机科学与自动化——第十篇 芯片设计14 芯片运维与可靠性模型
2026/10/16 2:16:13 网站建设 项目流程

芯片运维与可靠性模型

1. 加速寿命试验模型

1.1 温度加速模型

一级分类

二级分类

三级分类

四级分类

五级分类

模型名称

数学表达式

参数说明

加速寿命试验模型

温度加速模型

阿伦尼乌斯模型

单应力阿伦尼乌斯

基本阿伦尼乌斯

阿伦尼乌斯方程

AF=exp[kEa​​(T0​1​−T1​1​)]

Ea​:激活能(eV), k:玻尔兹曼常数, T0​:参考温度(K), T1​:加速温度(K)

加速寿命试验模型

温度加速模型

阿伦尼乌斯模型

单应力阿伦尼乌斯

寿命-温度关系

阿伦尼乌斯

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