芯片运维与可靠性模型
1. 加速寿命试验模型
1.1 温度加速模型
一级分类 | 二级分类 | 三级分类 | 四级分类 | 五级分类 | 模型名称 | 数学表达式 | 参数说明 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
加速寿命试验模型 | 温度加速模型 | 阿伦尼乌斯模型 | 单应力阿伦尼乌斯 | 基本阿伦尼乌斯 | 阿伦尼乌斯方程 | AF=exp[kEa(T01−T11)] | Ea:激活能(eV), k:玻尔兹曼常数, T0:参考温度(K), T1:加速温度(K) |
加速寿命试验模型 | 温度加速模型 | 阿伦尼乌斯模型 | 单应力阿伦尼乌斯 | 寿命-温度关系 | 阿伦尼乌斯 |
一级分类 | 二级分类 | 三级分类 | 四级分类 | 五级分类 | 模型名称 | 数学表达式 | 参数说明 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
加速寿命试验模型 | 温度加速模型 | 阿伦尼乌斯模型 | 单应力阿伦尼乌斯 | 基本阿伦尼乌斯 | 阿伦尼乌斯方程 | AF=exp[kEa(T01−T11)] | Ea:激活能(eV), k:玻尔兹曼常数, T0:参考温度(K), T1:加速温度(K) |
加速寿命试验模型 | 温度加速模型 | 阿伦尼乌斯模型 | 单应力阿伦尼乌斯 | 寿命-温度关系 | 阿伦尼乌斯 |